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X射線熒光測(cè)厚儀可用于測(cè)量一般工件、PCB及半導(dǎo)體產(chǎn)品的各鍍層厚度全自動(dòng)XYZ樣品臺(tái)；雷射自動(dòng)對(duì)焦、自動(dòng)對(duì)位；溫度補(bǔ)償；十字線自動(dòng)調(diào)整五種report format可供選擇

金屬鍍層測(cè)厚儀可用于測(cè)量一般工件、PCB及半導(dǎo)體產(chǎn)品的各鍍層厚度全自動(dòng)XYZ樣品臺(tái)。

X射線測(cè)厚儀（XRF-2000）可用于測(cè)量一般工件、PCB及半導(dǎo)體產(chǎn)品的各鍍層厚度全自動(dòng)XYZ樣品臺(tái)，雷射自動(dòng)對(duì)焦、自動(dòng)對(duì)位；溫度補(bǔ)償；有競(jìng)爭(zhēng)力的價(jià)格；五個(gè)準(zhǔn)直器（0.1mm,0.2mm,0.3mm,0.4mm,0.05x0.3mm） XRF2000能提供金屬鍍層厚度的測(cè)量，同時(shí)可對(duì)電鍍液進(jìn)行分析，不單性能*，而且價(jià)錢(qián)*，同比其他牌子相同配置的機(jī)器，XRF2000為您大大節(jié)省成本。